Redação do Site Inovação Tecnológica – 14/07/2026
Sensor atômico inovador
Pesquisadores do Instituto Federal de Tecnologia (ETH) de Zurique, na Suíça, desenvolveram um escâner atômico que utiliza um único íon como sensor para mapear campos eletromagnéticos em chips. O dispositivo cria mapas tridimensionais detalhados das interferências eletromagnéticas que afetam componentes eletrônicos.
Tecnologias quânticas têm-se fundamentado largamente em átomos individuais eletricamente carregados, ou íons. Esses íons são ótimos como bits quânticos, mas têm suas próprias suscetibilidades eletromagnéticas. Para eliminar interferências, o primeiro passo é ser capaz de medi-las, conhecer sua intensidade e saber de onde elas vêm.
Foi com esse objetivo que Tobias Sagesser e seus colegas apresentaram um escâner que consegue mapear campos eletromagnéticos. O mapeador de interferências está alojado em um suporte dourado. Nele, um único íon mede e cria um mapa tridimensional dos campos eletromagnéticos.
Como funciona o escâner
O processo começa com feixes de laser (vermelhos) que resfriam o íon (verde) até seu estado fundamental. Em seguida, o íon é posicionado para medir o campo eletromagnético em cada ponto específico. O sensor atômico de campos eletromagnéticos permite posicionar o íon em três dimensões.
O sensor atômico permite detectar os campos oscilantes minúsculos gerados dentro do chip. O próprio instrumento só usa campos estáticos, o que evita interferências adicionais. É possível variar a altura acima do chip de 50 micrômetros até 450 micrômetros, além de escanear uma área de 200 por 200 micrômetros.
Mapeamento de interferências
Com o escâner pronto e instalado próximo ao chip, pode começar o mapeamento dos campos eletromagnéticos do chip. Os campos elétricos oscilantes no chip afetam continuamente o íon, fazendo com que ele comece a oscilar. Quanto mais forte o campo, mais o íon sacode.
O estado de oscilação mecânica quântica do íon fica mudando, o que pode ser medido usando pulsos de laser. A partir da mudança no estado de oscilação, é possível mapear com precisão a intensidade do campo elétrico intrometido, o ruído eletromagnético do chip.
O aparato de teste, visto de cima, mostra o sensor localizado no recipiente abaixo da lente prateada. A técnica representa um avanço significativo para o desenvolvimento de tecnologias quânticas, permitindo identificar e mitigar interferências que comprometem o desempenho de dispositivos baseados em íons.
Fonte
- www.inovacaotecnologica.com.br
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